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為了查明填海地基是否存在地質(zhì)隱患、海底基巖面、隱伏斷裂等，采用高密度電阻率層析成像方法進(jìn)行探測(cè)，從正反演模擬的結(jié)果來看是一種可行的方法。在研究區(qū)布設(shè)3條高密度電阻率成像測(cè)線，結(jié)合地質(zhì)鉆孔進(jìn)行資料解釋，該方法對(duì)填海地基及其深部的隱伏斷裂、基巖面、回填區(qū)不良地質(zhì)體的勘探取得了較好的勘探效果，達(dá)到了設(shè)計(jì)目標(biāo)要求。研究區(qū)布設(shè)有大量的地質(zhì)鉆孔，區(qū)域地質(zhì)資料齊全，結(jié)合本次勘探結(jié)果，高密度電阻率層析成像方法正模擬結(jié)果與實(shí)際測(cè)量結(jié)果吻合較好，認(rèn)為在類似工程勘察中采用該方法是行之有效的。