本文主要介紹了為檢測(cè)石質(zhì)文物表層劣化程度而研制開(kāi)發(fā)的微電極高密度電阻率測(cè)深成像系統(tǒng)的指標(biāo)參數(shù)及電阻率精細(xì)成像的基本原理,并結(jié)合物理模型試驗(yàn)結(jié)果,在云岡石窟對(duì)文物近表面的微構(gòu)造、風(fēng)化帶、含水程度進(jìn)行了精細(xì)成像測(cè)試,測(cè)試結(jié)果表明,該系統(tǒng)能有效地評(píng)價(jià)文物近表面的微構(gòu)造、風(fēng)化帶劃分以及含水情況,說(shuō)明其在文物保護(hù)及監(jiān)測(cè)領(lǐng)域具有較高的推廣應(yīng)用價(jià)值。